F20 薄膜厚度测量仪

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用 参考价面议

Profilm3D光学轮廓仪

Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以的价格实现次纳米级的表面形貌研究。 参考价面议

F50薄膜厚度测量仪

依靠F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。 参考价面议

Zeta-20白光共聚焦

Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜，可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本，适用于研发及生产环境。 参考价面议

P-7 台阶仪

P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。 参考价面议

e-tablemini 桌上型主动式隔振台

mini 桌上型主动式隔振台全新设计，更易使用，的隔振性能。重要特征*空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果，同时没有共振*LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示*洁净室兼容设计-封闭式铝制机身与台面，避免带入污染/无需压缩空气*自动调平与固定-一键操作，切换自动调平和运输固定模式*USB接口-通过USB通信，可在遥控器上输出振动波形，观察振动情况典型应用原子力显微镜, 参考价面议

101-G，100-B，100-P，100-O高性能X射线荧光分析仪

产品描述：美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。 Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。 参考价面议

AVI-400系列AVI400系列 主动式防震系统

有着超过30年历史的Table Stable已成为主动隔振系统供应商的，且在这个领域上有着相当丰富的经验。于此同时Table Stable测量技术取得了巨大的进步，一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，只有主动隔振系统才能消除共振。Table Stable通过在发展主动隔振系统的同时补充了被动系统，的主动隔振系统可为的仪器提供各种消除振动干扰的需求。 参考价面议

α200系列低频消磁系统

这可能是在具性价比的主动式消磁器也可能高的低频主动式消磁器也可能是业界认同的低频主动式消磁器UNICORN α200系列低频消磁系统（EMI Canceling System，又称消磁器）， 是在 G3000系列基础上研发的新一代产品， 采用高精度纯直流测量/反馈 /控制电路， 适用于改善 300Hz 以下的低频电磁干扰环境。本特别适用于各种电子显微镜、光刻机的改善环境磁场，消除低 参考价面议

XL2 100G 手持式合金分析仪

Niton XL2100G XRF 分析仪 手持式合金分析仪Thermo Scientific Niton XL2100G 具有以下显著优势： ·合金材料由精确元量分析·从开机到按下板机，分析结果几乎瞬间得出·操作极其简单－一非技术人员亦可使用·适合工业环境的坚固耐用的设计。 参考价面议

Niton XRF 手持式合金分析仪

Niton XRF 手持式合金分析仪在质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用领域中，合号鉴别、金属成分快速分析，对 实验室分析来说是一项极其严峻的挑战。现在，这一切发生了根本性的变化，赛默飞世尔尼通手持式XRF分析仪——手持 式XRF技术的世界——正在引发一场元素分析领域的革命：快速精确的分析结果，昂贵分析成本的大幅降低，重大 决策的快速制定，均可在扣动赛 参考价面议

AVI-200系列 精密防震工作台

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