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X射线光电子能谱仪 XPS型号:赛默飞EscaLab 250Xi
面议电子顺磁共振波谱仪 EPR/ESR型号 JES FA200
面议全自动比表面及孔隙度分析仪BET/型号 麦克 ASAP2020
面议稳态/瞬态荧光光谱仪 型号:爱丁堡 FLS980
面议原子力显微镜 型号:Dimension Edge
面议高性能全自动压汞仪: 型号Autopore IV 9500
面议场发射扫描电子显微镜 SEM型号:Zeiss Sigma500
面议场发射高分辨透射电镜 HRTEM型号:FEI Tecnai G2 F30
面议EA有机元素分析仪(型号:Vario EL Cube)
面议磁学性能测量系统(型号MPMS3)/VSM测试/MH曲线测试
面议电子顺磁共振波谱仪(型号JEOL JES FA200)EPR氧空位/空穴测试
面议全自动化学吸附仪ChemiSorb 2720 /CO2-TPD/CO-TPD/H2-TPR测试/
面议1.仪器设备简介
Bruker D8 Advance采用当前的技术,能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析。仪器应包括长寿命X射线光管、高精度测角仪、能量色散探测器以及相关外围设备。设备总价14万美元。
采用新一代陶瓷X光管技术,焦斑位置稳定,衰减小,寿命长,尺寸标准;采用封闭靶技术,后期维护方便;新一代林克斯XE探测器,分辨率比上一代提升一个数量级。
2.测试项目
(1)物相定性分析
(2)物相定量分析
(3)精确测定点阵常数
(4)晶粒大小及晶格畸变测定
3.送样要求
可接收粉末、块体和薄膜测试,具体要求如下。
粉末:过200目筛,样品量不少于0.5g;极少量样品可选无背景样品台。
块体:被测面平整且尽量光滑,确保样品能装入φ25mm×3mm的样品槽,若样品尺寸更大,请咨询设备。
薄膜:若采用反射模式,尺寸要求同块体;若选用透射模式,要求样品有一定的柔韧性,具体咨询设备负责人。
液体及胶体样品:无法检测。
测试案例: