描述
英国泰勒粗糙度仪Surtronic Duo分离式 表面光洁度检测仪
泰勒SURTRONIC DUO粗糙度仪
型号：SURTRONIC DUO
探头系统：探头系统
表面粗糙度测量范围：199μm，40μm
扫描路径：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
阈值波长：0.8 mm
数据传输类型：USB
技术指标：
| 量 程： | 200um | |
| 行 程： | 5mm | |
| 取样长度： | 0.8mm+/-15% | |
| 参 数： | Ra：0.1um-40um | |
| Ra：0.1um-199um | ||
| 精 度： | Ra:0.1um | |
| Rz:0.1um | ||
| 检测方式： | 压电式 | |
| 尺 寸： | 125*80*38mm | |
| 重 量： | 200g |
应用：
用户友好的移动粗糙度测量装置，用于参数Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的标准粗糙度测量。
执行：
3.7“彩色液晶显示屏，zui多显示4个测量值
拆分显示和进纸单元
两台机器之间的蓝牙连接（zui大距离2米）
粗糙度参数符合DIN ISO和ASME标准
显示主要轮廓/参数Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑盖式探头，金刚石为5μm
可以通过迷你USB端口充电
优点：
InstantOn，从待机模式到测量模式只需5秒钟
操作简单直观，无需培训
测量值保存到下次测量为止
电池寿命每次充电可达3000次测量