蔡司扫描电镜Gemini系列_扫描电子显微镜-昆山吉安麦机电设备有限公司手机版

详细介绍

聚苯乙烯球上的金纳米颗粒，在3kV电压下成像。左：Inlens SE 图像，表面形貌。右：EsB 图像，材料衬度。样品：由德国University Erlangen-Nuremberg 大学的 N. Vogel 提供。

蔡司GeminiSEM 系列
用于进行高衬度和低电压成像的场发射扫描电子显微镜

GeminiSEM 系列产品能够轻松实现亚纳米分辨成像，即便在低真空模式下仍具有的探测效率。GeminiSEM 500 将成熟的 Gemini 技术与革新的光学设计结合，从而全面提升成像分辨率，尤其是在低电压下。借助其 20 倍增强的 in-lens 信号探测能力，您能够快速地获取清晰图像，并使样品损伤降至。GeminiSEM 系列产品的全新可变压力模式，让您拥有在高真空环境下成像的感觉。
运用 GeminiSEM 系列产品获取真实世界中任意样品的出色图像，为您的研究、工业实验室或成像平台添置一台灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜。

在低电压下获取更丰富的细节信息

在低电速电压下利用高衬度照片解析纳米级结构信息。
在500V电压下达到1.2nm分辨率成像，在1kV电压下达到1.1nm分辨率成像。您将受益于无样品偏差的出色图像品质。
成熟的Gemini技术缩短了成像时间。

随时提供更强的信号

GeminiSEM 500新的物镜设计大大提高了检测效率。它将in-lens二次电子信号增强了20倍。
通过检测最合适的那部分电子信号，您可以提升效率并获得样品的信息。
您可以利用这一优势显著缩短成像时间，或者使用更低电流以避免样品损伤。

可变压力使其更具灵活性

在可变压力模式下工作，让您拥有在高真空环境下成像的感觉。
在可变压力下使用in-lens检测。获得高分辨率、高衬度和高信噪比的图像。
如今，即使是要求的非导电样品也能获得清晰图像。

技术规格

基本规格	蔡司 GeminiSEM 500	蔡司 GeminiSEM 300
分辨率*	15 kV 时，0.5 nm	15 kV 时，0.7 nm
	1 kV 时，0.9 nm	1 kV 时，1.2 nm
	0.5 kV 时，1.0 nm
	在 30 Pa 样品室压力和 3 kV 电压（配有可变压力机型）下，1.4 nm
加速电压	0.02 – 30 kV
探针电流	3 pA - 20 nA（另有 100 nA 配置）
放大倍率	50 – 2,000,000 ×	12 – 2,000,000 ×
电子枪	热场发射型，稳定性优于 0.2%/h
主机标配探测器	Inlens 二次电子探测器
	Everhart Thornley 二次电子探测器
	高效 VPSE 探测器（包含在可变压力选件中）
可选配的探测器
	环形 STEM 探测器（aSTEM 4）
	AsB4背散射探测器
	阴极荧光探测器
图像存储	32k × 24k 像素
样品台	5 轴电动优中心样品台
	X = 130 mm；Y = 130 mm
	Z = 50 mm
	T = -3o - 70o
	R = 360o （连续）
	按需可提供更多载物台选件
*工作距离处的分辨率参数，取决于配置

产品简介

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