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DIC微分干涉工业显微镜JXM-3610
特点
DIC微分干涉工业显微镜JXM-3610是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。
参数
| 技术规格 | |
| 观察头 | 30°铰链式三目（ |
| 目镜 | WF10×/ |
| WF10×/ | |
| 物镜 | 平场无限远长工作. 距离明暗场物镜： 5×/0.1B.D/W.D. 10×/0.25B.D/W.D 20×/0.40B.D/W.D. 40×/0.60B.D/W.D. 80×/0.75B.D/W.D |
| 转换器 | 带DIC插孔四孔转换器 |
| 平台 | 双层移动平台 |
| 平台尺寸: | |
| 移动范围： | |
| 滤色片 | 插板式滤色片（绿、蓝、中性） |
| 聚光镜 | N. |
| 调焦 | 粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构.微动格值 |
| 光源 | 透射照明:卤素灯12V/50W, AC85V-230V,亮度可调节 |
| 落射照明:带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V/50W，AC85V-230V, 亮度可调节 | |
| 偏光装置 | 检偏镜可360度转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路 |
| 检测工具 | |
| 可供附件 | 可供附件 |
| 二维测量软件 | |
| 专业金相图像分析软件 | |
| 落射照明：卤素灯12V/100W, AC85V-230V,亮度可调节 | |
| 平场无限远长工作距离明暗场物镜: 50×/0.55B.D/W.D. 100×/0.80B.D/W.D | |
| 测微目镜 | |
| 130万、200万、300万、500.，1000万像素CMOS电子目镜 | |
| 摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75× | |
| DIC（10×、20×、40×、100×） | |
| 压平机 | |
| 彩色1/3寸CCD 520条线 | |
特点说明
1． 采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。
2． 拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法，DIC并在
每一观察法中均提供高清晰的图像质量。
3． 采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。
4． WF10×（Φ25）超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜。
5． 可插DIC微分干涉装置的转换器。
