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蔡司扫描电镜 场发射扫描电镜SIGMA300 SEM扫描电镜 核心技术
蔡司公司推出Sigma300场发射扫描电镜采用成熟的GEMINI光学系统设计,将低电压成像技术发挥到了极限,采用适宜的探针电流范围,降低50%的信噪比从而提升了85%的衬度信息。Sigma300将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma自动的四步工作流程大大节省了设置与分析操作的时间,提高效率。
蔡司场发射扫描电镜SIGMA 500产品应用
扫描电镜广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。在材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域,进行材料的微观形貌、组织、成分分析。各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体/晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。
蔡司场发射扫描电镜SIGMA 300技术参数
分辨率 | 1.0nm @30kV STEM、1.0nm @15 kV、1.8nm @1kV |
放大倍数 | 10-1,000,000× |
加速电压 | 调整范围:0.02-30 kV(无需减速模式实现) |
探针电流 | 3pA~20nA(100nA选配)稳定性优于0.2%/h |
低真空范围 | 2-133Pa(Sigma 500VP可用) |
样品室 | 358mm(Φ),270.5mm(h) |
样品台 | 5轴优中心全自动、X=130mm、Y=130mm、Z=50mm、T=﹣4°-70°、R=360° |
系统控制 | 基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制 |
存储分辨率 | 32k×24k pixels |
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研发与设计
R & D AND DESIGN
公司依托南京普渃斯派生态环境研究院平台。
深度融合河海大学、中国药科大学, 中南大学,中南林业科技大学等高校研发人才团队;
致力于光学影像检测设备、 瑕疵自动化检测设备,微纳米显微镜设备的设计研发工作;
销售与合作
COOPERATION
公司拥有多位精密测量行业人土加盟,并且拥有一支技术过硬,年轻敬业的服务团队。
与国外品牌Zeis,Wenzel,Mitutoyo,TA,GE,Renishaw,GOM及国内仪器生产厂家天准,雷顿,聚光,华唯,华银等建立深度渠道合作关系;
至今在华东地区已服务客户超过2500家。
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SERVICE AND SUPPORT
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