扫描电子显微镜为您*苛刻的样品
有了EVO，你可以比以往任何时候都更好地捕捉和分析图像。
使用*清探测器技术捕捉*对比度的表面细节的裂缝，复合材料，加工表面和颗粒。
通过EVO 25，您可以在其420毫米的大腔室中查看来自航空航天和汽车工业的大型样品。
EVO可以提*您在质量控制和失败方面的生产力
分析。
将自动智能成像用于您的任务，它将迅速提供可重复的结果。
更重要的是，SmartBrowse具有交互式图像模板，允许您在上下文中显示示例图像，并*加快报告的创建。
根据您的需求配置
决议
1.9 nm, 2 nm, 3 nm at 30 kV SE with HD, LaB6, W 4.0 nm at 30 kV BSD (in VP mode)
5 nm, 10 nm, 3 nm在3 kV SE与HD, W
8 nm, 15 nm, 20 nm, 1kv SE与HD, LaB6, W
放大
< 7 - 1,000,000 × / < 5 - 1,000,000 ×
x射线参数
WD 8.5 mm / 35°TOA
压力范围
10 - 400 Pa

简单。更聪明。更多的集成。
•坚固的支架和各种腔室尺寸允许您处理大型、重型或复杂的样品。
•easyvp让您无缝切换*真空和
变压模式。
•用户友好的图像导航和样本类型的选择，让您快速捕捉图像。
•*稳定性和几何形状确保了在*真空和变压力模式下的*元件分析。
•您的系统是面向未来的，可以在任何时候进行扩展。
只需配备新的探测器或扩展压力或湿模式，当您的应用需求如此需求。
为您的应用程序创建
•分析汽车涂料的厚度、成分和结构。
•确保生产过程的清洁。
对钢中非金属夹杂物的成分进行分析。
•对弹壳上的枪击残留物和撞针凹痕进行法医调查。
进行快速和可重复的颗粒分析。
•分析药物制剂在片剂上的分布
部分。
•查看金属和合金中由孔隙形成引起的滑移带、空洞和裂缝。