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PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位多场耦合样品杆 是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，借助该系统，研究人员可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括光、电、力、热等），从而对材料或者器件等不同类型样品实现多重激励下的原位表征。
具备多种耦合方式：力-热、力-电、光-电、光-电-力、光-电-力-热
技术指标
| 电学测量 | 加热控温 |
| 1.包含一个电流电压测试单元； | 1.温度范围：室温至1000℃； |
| 2.电流测量范围：1nA-30mA； | 2.温度准确度：优于5%； |
| 3.电流分辨率：100fA； | 3.控温稳定性：优于±0.1℃； |
| 4.电压输出范围：±10V，±150V； | 4..软件控制，数据自动保存。 |
| 5.软件自动测量：I-V、I-t |
透射电子显微镜内不同温度下的原位充放电研究
In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures
doi: 10.1002/smll.202001899
| 力学操纵 | 光纤指标 |
| 1.探针粗细调方式：全软件操控； | 1.光纤探针、平头光纤、光纤透镜多种方案可选； |
| 2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； | 2.光纤快拆接口：SMA、FC等； |
| 3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um； | 3.可外接光源； |
| 4.4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； | 4.可外接光谱仪； |
产品选型
原位多场耦合样品杆 具有单倾、双倾（JEOL）两个版本；
泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，支持定制。
国内部分用户
典型案例
1、加热芯片+电学探针-------＞透射电镜内的原位加热电学实验；
2、加热芯片+力学探针-------＞透射电镜内的原位高温力学实验；
3、电学芯片+电学探针-------＞透射电镜内的三端器件测量实验；
4、电学芯片+光纤单元-------＞透射电镜内的电制发光现象研究；
5、电学芯片+光纤单元-------＞透射电镜内的原位光电现象研究。
