XRF-1800-扫描道波长色散型X荧光光谱仪_元素含量分析仪器-上海瓦克仪器有限公司手机版

详细介绍

250μm微区分布成像分析功能！

XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪有微区分析/分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，得到了高评价。

扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高水平。

在波长色散型装置中，250μm微区分布成像分析功能

可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例

利用高次谱线进行定性/定量分析

高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法
利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。

使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

微区分析结构

特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。

利用CCD相机可以直接观察样品（选配件）

在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。

配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗Ｘ射线管

配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。

精华的模块功能，匹配分析功能

对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制合适的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。