台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪：
EDX-6000X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。
EDX-6000X荧光光谱仪基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。
EDX-6000X荧光光谱仪经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。
软件功能
元素含量分析范围为2 PPm到99.99% 采用内标校正，提高非定性式样测量精度 用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法 全自动定量分析报告简捷准确 自适应初试化校正 光谱的自动获取和显示。 具有自动检测仪器工作状态的功能。 自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。 硬件 美国进口探测器，高速脉冲高度分析系统 美国SPELLMAN高压发生器 美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好 美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好 美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好 尺寸＆重量 电源：550220V±10％ 50Hz 环境温度：10℃-28℃ 环境湿度：≤70 ％RH(25℃室温） 产品优势 台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪： 无损检测 在无标准样品时亦可准确分析 测量时间比化学方法短，不需要辅助材料 计算机进行数据处理，分析快速准确 高分辨率图形即时显示，由不同色块加以判断区分 硅半导体探测器 元素含量分析范围为2 PPm到99.99% 采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度 全自动定量分析报告简捷准确 自适应初试化校正 光谱的自动获取和显示 具有自动检测仪器工作状态的功能 自动判别样品及自动分析
技术参数：
