XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

性能优势：

1、微小样品检测：最小测量面积0.0085mm²

2、变焦装置算法：可改变测量距离

测量面积：最小0.008mm²

镀层分析：23层镀层24种元素

仪器特点：RoHS卤素有害元素检测

仪器优势：全元素自动分析

仪器简介：

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

技术参数：

1. 成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）

2. 成分检出限：1ppm

3. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）

4. 涂镀层检出限：0.005μm

5. 最小测量直径□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm²）

标配：最小测量直径0.3mm（最小测量面积0.07mm²）

6. 对焦距离：0-30mm

7. 样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸：550mm*760mm*635mm

9. 仪器重量：100KG

10. XY轴工作台移动范围：100mm*150mm

11. XY轴工作台承重：15KG

应用领域：

多元迭代EFP核心算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

有害元素检测：RoHS检测，可满足铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr VI）等有害元素的成分检测及含量分析

配置清单：