FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210不仅仅是一台镀层测厚仪，它还是一台金属成分分析仪
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210X 射线荧光光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层
及大规模生产的零部件上的镀层。
简介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。最多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。
XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
测量薄镀层，例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。
XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。
配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。
所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。
XDL 型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法规规定。
能量色散X 射线荧光光谱仪 （EDXRF） 用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围最多同时测量从氯（Cl 17）到铀（U 92）之间的24 种元素
测量门向上开启 测量方向从上到下
X 射线源带铍窗口的钨管
三种高压： 30 kV，40 kV，50 kV，可调整
孔径（准直器） Ø 0.3 mm （可选：圆形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形0.3 mm x 0.05 mm）
测量点：取决于测量距离及使用的准直器大小；实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。
最小的测量点：大小约Ø 0.16mm.
测量距离，如测量腔体内部
0 ~ 80 mm，未校准范围，使用保护的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校准范围，使用保护的DCM 功能
X 射线探测：X 射线接收器比例接收器
样品定位：视频显微镜
高分辨 CCD 彩色摄像头，用于查看测量位置
手动调焦或自动聚焦
十字线刻度和测量点大小经过校准
测量区域照明亮度可调
激光点用于精确定位样品
放大倍数 20x ~ 180x （光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x）
样品台 XDL 210
可用样品放置区域 463 x 500 mm
样品重量 20 kg
样品高度 155/90/25 mm
激光定位点 -
电气参数
电压，频率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 120 W （不包括计算机）
保护等级 IP40
仪器规格
外部尺寸宽x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
内部测量室尺寸宽x 深x 高[mm]: 460 x 495 （参考“样品高度”部分的说明）
