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CRAIC多功能显微分光光度计ELIXIR
面议美国CRAIC折射率定量分析仪 rIQ
面议CRAIC专业煤岩分析系统CoalPro Ⅲ
面议CRAIC显微拉曼光谱分析系统Apollo II
面议CRAIC专业快速煤岩分析系统GeoImage
面议日本Microsupport自动微操作系统Axis Pro SS
面议日本Microsupport自动微操作系统 Axis Pro FC
面议CRAIC紫外-可见-近红外显微镜UVM-3
面议日本CSM高精度表面检查仪
面议纳米光子RAMANview拉曼显微镜(Nanophoton)
面议日本纳米光子RAMANtouch拉曼光谱仪(Nanophoton)
面议成像亮色度计
面议美国CRAIC发布的FLEX光谱仪集成系统为紫外-可见-近红外显微光谱学设定了一个新的标准。使用技术的FLEX不仅可以让用户测试微米级样品的吸收、反射、拉曼、荧光激发或其他光源类型下的光谱,还同时提供了数字成像功能。光谱测试的范围从深紫外到近红外,同时也提供全波段的成像。具备的光谱及图像分析软件、自动化的参数设置、简单易用、能长时间稳定工作等优良特性。FLEX是工厂产品检测以及实验室样品分析的工具。
FLEX集成了紫外-可见-近红外(200-2200nm光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身,同时光谱仪和数字成像系统都使用了的显微镜光路系统。高灵敏度的固态阵列检测器件使用了热电制冷的方式提高了器件的信噪比,并保证设备能长时间稳定地工作。高分辨率的数字成像系统在用于紫外、近红外以及可见光波段的彩色成像。多种类型的光源包提供了从深紫外到近红外的光源,类型包括透射光、反射光、荧光等,偏振光和拉曼激光也可以根据用户需求提供。精巧的软件不仅可以控制显微镜、光谱仪和数字成像系统,还同时提供了分析功能,甚至包括薄膜厚度测量。