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美国CRAIC显微光谱分析系统FLEX
面议美国CRAIC显微全光谱分析系统20/30PV
面议CRAIC多功能显微分光光度计ELIXIR
面议美国CRAIC显微分光光度计508PV
面议美国CRAIC折射率定量分析仪 rIQ
面议CRAIC专业煤岩分析系统CoalPro Ⅲ
面议CRAIC显微拉曼光谱分析系统Apollo II
面议CRAIC专业快速煤岩分析系统GeoImage
面议日本Microsupport自动微操作系统Axis Pro SS
面议日本Microsupport自动微操作系统 Axis Pro FC
面议CRAIC紫外-可见-近红外显微镜UVM-3
面议日本CSM高精度表面检查仪
面议 特点
· 它具有2000万高像素,能够为光学测量提供高分辨率的细节
· 具备分辨率下高读出速度,能通过影像的方式快速得到样品的亮度和色度的分布信息
· 使用了高精度传感器以及低畸变的镜头使得测量结果更加准确
· 配合我司研发的测量软件可实现产线环境的快速测量,并提供客户定制化功能与接口的服务
· 支持任意局部图像(ROI)的读出与合成。
· 提供客户定制化功能与接口的服务,更好地贴合客户的需求
软件特点:
SA_PROLine软件主要用在发光平板的在线与离线测量,如背光、模组、电视等。用户可自定义生成具有两个常规点模板与两个萤火虫模板的测试型号,通过设定型号的测试标准达到OK/NG的自动判断。软件开放TCP通讯接口,支持客户的软件通过TCP协议对SA_PROLine软件进行控制及数据的提取。
软件支持用户定制化,软件可根据客户习惯及特定公式进行定制。可根据用户的测试需求定制开发,如透镜分析、道路亮度分析、black mura分析、串扰分析、残影分析、灯条分析、gamma分析等。
SA_FaceAnalyse软件提供了多目标各自平均亮色度及均匀性的测量,主要用在发光平面、仪表盘、发光字符、键盘等应用。用户可根据目标位置进行框选并保存成模板,软件将对框内发光物体进行自动识别及轮廓缩进,计算出发光物体的亮色度及均匀性等信息。软件提供像素合并、滤波、轮廓缩进程度等功能,对数据图像进行处理,并开放TCP通讯接口,支持客户的软件通过TCP协议对SA_FaceAnalyse软件进行控制及数据的提取