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美国CRAIC显微光谱分析系统FLEX
面议美国CRAIC显微全光谱分析系统20/30PV
面议CRAIC多功能显微分光光度计ELIXIR
面议美国CRAIC显微分光光度计508PV
面议美国CRAIC折射率定量分析仪 rIQ
面议CRAIC专业煤岩分析系统CoalPro Ⅲ
面议CRAIC显微拉曼光谱分析系统Apollo II
面议CRAIC专业快速煤岩分析系统GeoImage
面议日本Microsupport自动微操作系统Axis Pro SS
面议日本Microsupport自动微操作系统 Axis Pro FC
面议CRAIC紫外-可见-近红外显微镜UVM-3
面议日本CSM高精度表面检查仪
面议SA-KB发光键盘及字符自动光学测试系统,系统经过客户产线长时间运行和验证,性能稳定可靠,使用人性化,得到了客户的强烈认可,测量数据准确,可提供计量报告。
可测量项目:
全键盘、各区域、各键帽的亮度(值、最小值、平均值、均匀性)、色坐标、色差(值、最小值、平均值)、主波长等
测试节拍:
单片测量时间4s以内,多曝光下增加额外的曝光时间及0.8s一次的拍照时间
点亮电源及样品接线端子:
可根据客户需求定制
测试触发:
标配脚踏触发器
载物台:
气动(需客户现场具备气源)/电动
软件界面