布鲁克 AFP 原子力显微镜
InSight AFP is the world’s highest performance and industry preferred CMP profiling and etch depth metrology system for advanced technology nodes. The combination of its modern tip scanner with inherently stable capacitive gauges and an accurate air- 参考价面议布鲁克 三维X射线显微镜
SKYSCAN 1275台式系统是一套真正的三维X射线显微成像系统,为不同样品的快速扫描而设计。得益于紧凑的几何结构和快速的平板探测器,它只需要短短几分钟的时间就能得到结果。这使其成为质量控制和产品检测的理想选择。 参考价面议布鲁Bruker 多功能 原子力显微镜
Dimension FastScan® 原子力显微镜 (AFM) 系统经过专门设计,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性,不带来繁琐操作的前提下,即可实现快速扫描。使用 FastScan,您可以即时快速地获得 AFM 图像,实现高性能 AFM 的预期高分辨率。无论您是以 125Hz 扫描样品表面寻找查找感兴趣的区域时,或是在气相或流体中以每秒 1 秒的速率采集AFM图像,都能用FastScan得到优异的高分辨图像。Dimension FastScan这一变革性技术重新定义了 A 参考价面议布鲁克 FastScan Bio 原子力显微镜
Dimension FastScan Bio 原子力显微镜 (AFM) 可实现生物动力学的高分辨率研究,实时样品观测的时间分辨率高达每秒 3 帧。更重要的是,它同时使AFM比以往更容易使用。Dimension FastScan Bio AFM 以的大样本 AFM 平台为基础,增添了专门的生物样品表征功能,用于对分子间相互作用、膜蛋白、DNA 蛋白相互结合、细胞间信号传输和许多其他动态生物学研究,进行高分辨率、活样观察。 参考价面议布鲁克 Bruker Speed AFM
The NanoRacer® High-Speed AFM marks a quantum leap in quantitative imaging capabilities. The real-time visualization of dynamic biological processes with nanometer resolution has never been easier. The NanoRacer opens a world of new and exciting 参考价面议布鲁克 Bruker PI 89 扫描电镜纳米压痕仪
The Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载 Bruker 的电容传感技术,继承了市场的批商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。 参考价面议布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourGT-X
ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量,适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉(WLI)创新和设计,可在业界的视场范围内提供的垂直分辨率。该系统主要包括全自动化系统与生产界面,一个大型电动 XYZ 平台、扫描头的倾斜/俯仰以及一个集成气浮式防震台。ContourGT-X 专为满足的研发、质量保证和工艺质量控制需求而设计,提供了具有计量能力的三维光学精度和测试稳定性解决方案。 参考价面议布鲁克 Bruker光学轮廓仪 ContourX-200
ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的融合,是同类产品中、最准确、可重复性的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小,采用更大视场、5MP 数码摄像头和全新电动 XY 工作台,具有的二维/三维高分辨测量能力。ContourX-200 拥有出色的 Z 轴分辨率和精确度,具备布鲁克专有白光干涉(WLI)技术广受业界认可的所有优势,而且不存在传统共聚焦显微镜和同类普通光学轮廓仪的局限性。 参考价面议布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourX-100
具备性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小,所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干涉(WLI)创新技术,具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台,实现更多缝合功能,并新增一个测量模式 USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称的台式系统。 参考价面议布鲁克Bruker Dektak XT探针式轮廓仪
DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计,可实现 4Å (0.4nm) 的的重复性,扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是 Dektak® 五十多年创新和地位的。DektakXT 结合了一的技术和设计,可提供的性能、易用性以及价值,实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。 参考价面议MicroChem 电子束光刻胶 PMMA
PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯)是一种通用的聚合材料,适用于许多成像和非成像微电子系统。PMMA光刻胶是将PMMA聚合物溶解在诸如苯甲醚之类的安全溶剂中,曝光会导致聚合物链断裂。PMMA作直写式电子束的高分辨率正性光刻胶,它具有的分辨率,易于处理和出色的薄膜特性。PMMA还可用作晶圆薄化的保护涂层,粘结粘合剂和刻蚀层。 参考价面议美国Sonoscan D9650 C-SAM 超声波扫描显微镜
D9650和上一代产品一样提供了良好的精度和稳健性,增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9650是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。 参考价面议