霍尔效应测试系统

HET-3RT霍尔效应测试系统

参考价: 订货量:
87000 1
86000 3
85000 6

具体成交价以合同协议为准
2023-08-18 14:52:59
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武汉嘉仪通科技有限公司

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产品简介

霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

详细介绍

霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

 

 

产品特点

● 自主知识产权产品。

● 采用高精密度恒流源和电压表,确保仪器测试的良好准确度和高稳定性,性能*。

● 自动控制磁场方向的改变,更加方便准确。

● 样品装夹方式快速方便,且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。

● 产品工业外观采用一体化、精密化设计,融入人性化的设计理念,不仅赏心悦目而且操作方便。

● 智能化的用户界面操作简单,功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验,使测试过程更加方便快捷。

 

产品技术参数

设备型号

HET-3RT

温度范围

RT

磁感应强度

0.68T

恒流源范围

1nA~100mA

电压表范围

1nV~30V

迁移率范围

1~107cm2/(V·s)

霍尔系数范围

10-3~109cm3/C

载流子浓度范围

107 ~1021/cm-3

电阻率范围

10-6~107Ω·cm

样品尺寸

边长或直径:10mm~20mm

厚度:10nm-1mm

主机尺寸

570x545x380(mm)

重量

50kg

 

霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)产品应用

● 判断半导体材料类型

● 太阳能电池片的制程辅助

● 晶圆电性能的判断

● 热电材料研究


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