平面平晶检测干涉仪

HOOLL9600A平面平晶检测干涉仪

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2023-01-08 15:47:20
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冠乾科技(上海)有限公司

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产品简介

平面平晶检测干涉仪 突破了一等平面平晶限制,且其采样点可达上百万像素,能客观反映被测平面全貌。 不仅测量精度高,而且具有*的测量效率。此款干涉仪可广泛应用高精度光学元件制造、计量检测、生物医学、航空航天、国防、微电子、能源等众多领域 具有广阔的市场前景。

详细介绍

平面平晶检测干涉仪



                    (1)应用领域

●计量领域(平面平晶检测)

●半导体工业(晶片检测)

●大平板显示(平面检测)

●手机工业(背板检测)

●光学加工(窗口玻璃检测)

●高精度精密机械(平面元件检测)

●LED工业(蓝宝石衬底检测)

●数据存储和科研院校教学仪器等多种领域。

●平面平晶、窗口玻璃、光学平面、金属平面、陶瓷平面等

●光滑表面面形的高精度快速测量,90°直角棱镜和角锥测量。


                    (2)产品综述


  无应力平面检测干涉仪是高性能模块化组合检测干涉仪中的一种,它采用组合式激光干涉仪作为核心部件,主要用于高效检测高精度平面。

  该产品包括光源、主机、成像以及镜头和相移等四大模块,主要技术指标已达到国际水平, 采用更加简便操作的俯式测量,拥有*的测量精度和测量重复性,突破了一等平面平晶限制,且其采样点可达上百万像素,能客观反映被测平面全貌。不仅测量精度高,而且具有*的测量效率。

  此款干涉仪可广泛应用高精度光学元件制造、计量检测、生物医学、航空航天、国防、微电子、能源等众多领域,具有广阔的市场前景。


                   (3)平面平晶检测干涉仪参数性能

测量原理:

斐索干涉原理

光源波长:

632.8nm

样品准直:

使用两个光点

电源:

220V 50HZ /11 0V 60HZ

操作系统:

Windows7/10, 32/64bit

CCD分辨率:

1280*960像素

软件:

H&L-p数字化相移分析软件

精密度:

/600 PV

重复性:

/500 PV

重复性:

/1000 RMS

透射平面镜精度:

A/20 PV


◆材质均匀性

◆超精密平面/球面面形测量

◆光学系统装调和校准

◆光学组件透射波前测量

◆光学均匀性测量

◆平行度测量

◆角锥角度测量

◎◎我们会倾听您的需求,支持特殊需求定制



  部分客户群体:苏州计量院,上海计量院,福建计量院,上海光机所,石家庄13所,上海现代先进超精密制造中心有限公司UPEC,长春理工,上海理工等。


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