平 晶 检 验

详细介绍：

平面平晶技术要求：

1.测量面平面度误差：1级小于0.03μm；2级小于0.10μm

2.平行度误差小于0.20μm

3.外径30m

    四件套平行平晶：

可用于检测千分尺两相对测量面的平行度误差，分别用于测量0度、90度、180度、270度等四个方向的偏差值

规格:ф30,ф45,ф60.

   平面平晶特性：

产品分单面、双面、平行三类，可用于不同场合。

可检测精密平面的平面度、平行度

一级平晶的平面度误差不大于0.03μm；二级平晶的平面度误差不大于0.10μm

千分尺专用平晶四件套装

  平面平晶的原理：

1.平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。平面平晶、平行平晶及各种光学零部件，能够承担各种高精度光学平面零件及光学标准样板的设计和加工。

2.平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。