关于有机薄膜的分析表征技术
时间：2021-03-17 阅读：342
关于有机薄膜相关的分析表征技术，我们可以提供下列技术和商品化的仪器，供您参考。
一、 CAM200（光学接触角仪）
用于测量表面和薄膜的清洁性、表面涂层的质量、接触角、润湿性能、表面自由能等。
二、 BAM（布儒斯特角显微镜）
BAM是一种很经济的界面表征技术，不仅可以用于固态界面的表征还能用于表征液态界面。与荧光显微镜相比，除了非侵入性外，BAM技术的主要优点在于不需要在所研究的材料上使用任何荧光探针就可以直接观察空气/水界面或介电基底上的超薄膜。易于与LB槽安装在一起，实现一体化操作。
三、 IRRAS（界面反射红外光谱仪）
能够测量液体、固体表面单分子层的红外光谱信息。快速和简便的利用反射红外光谱分析漂浮和固体表面的单分子层的分子取向和结构信息。创新的结构设计是原位红外光谱分析技术上的新突破。不需要额外的、繁杂的反射镜和透镜就能使红外光束照射到界面上。在支架的一端是光度计，另一边是检测器。集成的软件使在液体界面（如特定的表面压下）和固体界面上获取光谱的操作十分简单。
四、 NKD（薄膜分析系统）
NKD7000/ 8000系列薄膜分析系统的分光型薄膜分析仪，特别适合有机薄膜方面的分析测试。它通过对薄膜和基片的透射光谱和反射光谱的测量，并利用专业成熟的分析软件求得薄膜和基片的折射率（n）、吸收系数（k）和厚度（d）。所测薄膜包括多层薄膜。主要应用：光学涂层；半导体加工；平板显示器；数据存储；光电器件；建筑和高附加值玻璃；包装和装饰材料
五、 MiniSIMS（小型二次离子质谱仪）
MiniSIMS一个主要的特征是对表面或者薄膜的局部区域进行原位分析（静态SIMS）。仅需数秒（而非数分钟），扫描聚焦探测光束（成像SIMS）生成一个表面成分图。随后的分析通过顺序的刻蚀表面而显示表层下面变化的组成（动态SIMS）。所有这些可在只需少量或不需任何样品制备的情况下操作成功，并且灵敏度高，分析时间少。
★应用范围及优势：
☆单分子层表面信息 ☆化学组分快速成像
☆各种元素的检测 ☆薄膜动态（深度）分析
☆有机物质鉴定 ☆台式设计，移动方便
☆高灵敏度分析 ☆经济实用，操作简单
六、 QCM（石英天平分析仪）
研究薄膜或涂层与气体或液体的吸附和反应，薄膜的电性能（包括电阻、电感、电容等），获得薄膜或涂层的质量、反应动力学、刚性、弹性模量、粘性模量、本体粘度、薄膜厚度和密度。重要应用包括：生物、医药、化学、自组装、薄膜沉积、聚合物等。