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热辐射计是用于测量红外辐射的检测器。 它们对热辐射非常敏感,主要用于10至5000µm(30THz至60GHz)的红外光谱中。
探测器元件是一种非常敏感的热敏电阻,为了降低热本底,它被冷却到LHe温度。
撞击在检测器上的任何热辐射都会引起温度变化,这会导致电阻发生变化,该变化的电阻被放大并作为电压差进行测量。
由于辐射热计测量温度变化,因此必须对入射辐射进行调制。
这使得辐射热测量计能够激发和放松,因此可以测量对应于入射辐射能量的电阻变化。
应用:
分子束光谱
强磁场研究
太赫兹研究
参数规格:
通用4.2K系统:
我们,用途泛的辐射热测量系统同时也涵盖了广泛的应用范围。
它由一个与2.5mm金刚石吸收器相连的4.2K辐射热检测器元件组成。
它在15至2000µm(20THz至150GHz)的范围内调制频率在200至400Hz的范围内。
标准1.6K系统:
与我们的通用4.2K系统类似,其光谱响应(15至2000µm)具有降低探测器温度的附加优势。
这些好处包括较低的NEP,较高的灵敏度以及快速响应时间的优点。 该系统可以在大于1 KHz的调制频率下工作。
HI-RES4.2K系统:
该系统提供了较低的热导率检测器和更高的光谱分辨率。 该配置提供了响应速度较慢的系统,其调制频率保持在200Hz以下。
该系统更灵敏,NEP值比通用4.2K系统低一个数量级。
远红外1.6K系统:
专门配置为检测存在于红外光谱较长波长中的能量较低的信号,并且在300µm至5mm的范围内表现良好。
与我们的其他辐射热测量系统相比,它的导热系数非常低。 这有助于提供更长的时间以捕获低信号强度,并且在低于300Hz的调制频率下运行