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BI-XDC圆盘式离心/沉降粒度仪
BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度数字电机实现了*的转速控制精度，通BI-DCP一样，是具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确度的纳米/微米颗粒粒度测量仪器。XDC以X-射线为检测光源，避免了对小颗粒样品的消光校正，广泛应用于陶瓷和金属粉末等行业的质量控制。 参考价面议 -
BI-DCP 圆盘式离心/沉降粒度仪
BI-DCP/BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度数字电机实现了*的转速控制精度，是具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确度的纳米与微米颗粒粒度测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。 参考价面议 -
EyeTech粒度分析仪
EyeTech Combi是颗粒分析终解决方案，它集成了*的LOT（激光光阻法）与专业的图像处理识别技术，提供样品粒度、粒形和浓度数据等完整的颗粒表征。*的激光阻隔时间分析技术（LOT），可快速准确地进行粒度分析；通过使用视频的精密动态图像分析技术，准确描述非球形材料；其测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关。 参考价面议 -
BI-DNDC 示差折射仪
BI-DNDC示差折射仪是测量高聚物样品dn/dc值的专业仪器。由于光散射产品在大分子分子量测量中的广泛使用，越来越多的需要提供精确的dn/dc值参与分子量测量与计算。 参考价面议 -
ZetaPlus Zeta电位分析仪
ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其*的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有*的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。 参考价面议 -
ZetaPALS 高灵敏度Zeta电位分析仪
ZetaPALS是目前能够精确测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！ 参考价面议 -
omni高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪
Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能大的粒度与Zeta电位分析仪。 参考价面议 -
90Plus亚微米激光粒度分析仪
90Plus亚微米激光粒度分析仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。 参考价面议 -
TurboCorr 数字相关器
TurboCorr数字相关器是对取得巨大成功的BI-9000的全面更新：它使用了的DSP技术，令体积大为缩小。与其前一代产品相比，TurboCorr随着功率的大幅降低与USB端口的应用，使得全套系统有了突出的便携性与兼容性，可为笔记本电脑控制。 参考价面议 -
173Plus多角度粒度分析仪
作为将背向光散射技术（Back-Scattering）引入粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。 参考价面议