EM TIC 3X离子束

EM TIC 3X是一种宽离子束铣削装置，用于制备样品横截面以及平面样品，用于扫描电子显微镜（SEM），光学显微镜（LM），显微结构分析（EDS，WDS，Auger，EBSD）和 原子力显微镜（AFM）研究。 该仪器配备了三重离子束系统，可以在室温或低温下处理几乎任何材料的大表面积。

EM TIC 3X被设置为模块化系统，并可以灵活地配备用于各种应用的不同阶段：

标准阶段：准备各种尺寸，形状和材料不同的样品

冷却台：防止热冷却敏感样品被过热破坏

多个样品台：连续准备至少三个样品，无需用户干预，确保高水平的样品通量。

旋转台：用于平面铣削或离子束抛光