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XperRam Ultimate多功能拉曼光谱成像系统
产品简介
XperRam Ultimate多功能拉曼光谱成像系统是一款多功能共聚焦拉曼/荧光/光电流/荧光寿命检测光谱成像系统,采用透射式光路设计,提高了产品的灵敏度和稳定性。*的振镜扫描技术能够在台面固定不动的情况下实现快速二维成像扫描。该技术在联用光电流成像系统载台时优势明显,并且可扩展增加荧光寿命检测系统。可实现拉曼/PL/光电流/荧光时间寿命/荧光检测等功能。
整个系统的个构成如下图,需要测量拉曼和荧光信号时,样品激发的拉曼信号和荧光信号通过显微镜,再由光谱仪分光至CCD检测器接收,计算机软件读出拉曼和荧光的光谱信号并扫描成图像输出。需要测量荧光时间寿命时,转换器将样品激发的瞬态荧光信号分光至TCSPC(单光子计数器),通过单光子计数器记录荧光的时间寿命。需要测量光电流时,接上探针台和电流计,激光激发样品产生的光电流信号通过探针引出至电流计,再读出至电脑软件,记录整个检测面的电流分布。
功能描述
光学成像图 Raman mapping 拉曼成像图2
WS2拉曼光谱图 WS2 光致发光(PL)谱图
稳态荧光成像图 TCSPC 瞬态荧光成像(FLIM)
光电流系统探针台 光电流成像图和电流计数值
产品特点
(光透过率>90%,比反射式光栅高30%,信号传输效率更高)
应用领域
石墨烯,二维材料,生物样本,半导体工业,碳纳米管,碳材料,太阳能电池,储能材料,纳米纤维分布,探测器光电性能检测,晶圆体分析,制药分析,纳米材料检测,生物细胞成像,微塑料检测,金刚石微粉检测。
基本参数
激光器 |
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显微镜 |
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扫描模块 |
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探测器 |
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电流计 |
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探针台 |
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拉曼 |
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荧光 |
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荧光寿命(FLIM) |
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光电流成像 |
NIR I: 650~1050nm NIR II: 1050~1550nm 典型的 532nm/633nm/785nm/1550nm
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