适应性解决方案

HEL PAT-IR （过程分析技术）是一种即插即用技术，是理想化的过程实施监测及反馈控制探测器，它能够提供全面的集成化解决方案，并满足多种化学及生物反应器及其应用的特殊需求。

模块集成化  

多通道FT-IR 可与HEL多通道平行反应平台系统完美兼容。此外，HEL还提供采用同种技术的流动探测版本，也可扩展实时监测及反馈控制功能。

多种环境

PAT-IR专为过程环境而设计，然而紧凑性设计也是其成为适合于实验室基础应用的一款理想仪器。其采用的无损分析方法，数秒钟即可得到实验数据，十分契合化学过程在线测量的需求。

光纤探头

在ATR(全反射衰减法)采样技术与光导光纤的强强组合可以大大扩展红外光谱的适用范围。光纤探头可以实现原位测量，这样有助于充分利用中红外光谱仪提供的丰富信息并*发挥这一优势。

多种适用传感器可选，包括金刚石ATR探头，可用于原位分析。该设计结合了双反射金刚石ATR 传感器及MIR-卤化银纤维的优良性能。

主探头规格：直径6mm, 长度300mm, 哈氏合金材质，金刚石视窗，工作温度-100 to 180°C，压力300bar

快速连接

PAT-IR 提供专有的快速接头设计，确保操作简单及光纤传感器更换方便，保证测试数据重现性好。利用内置自动化多通道系统，1台主机多可支持6通道的数据采集及反馈控制。

设计特点

PAT-IR基于布鲁克光学原理，设计紧凑，通过中红外光纤传感器服务于质量保证、过程控制和过程优化的应用需求。标配光纤传感器与BQC连接，可选配一6端口多路转换器。该系统包括一个窄频带MCT探测器，以及可持续12小时的液氮冷却系统。

数据

性能：

光谱范围：7500 -  720cm^-1 （标配*分束器和MCT探测器）

测量速度：可达每秒5次，分辨率8cm^-1 

分辨率：优于1. 0cm^-1（升级为高感光*绕射变迹技术）

波数重复性：优于0. 04cm^-1

波数精确度：优于0.1cm^-1

光度精准性：优于0.1% T

探测传感器：

ATR元素：双反射硅棱镜或金刚石棱镜

传感器长度：290 mm ± 20 mm（可根据需要定制规格）

传感器直径：6mm

传感器材质：哈氏合金

密封件：特氟龙材质或金刚石惰性焊接

光纤设计：具有坚固的电缆保护管，将卤化银光纤放置其中

光谱范围：根据检测器材质的不同有所不同

硅棱镜 3500 - 660 cm^-1 (3 - 16μm )

金刚石棱镜 3500 - 560 cm^-1 (3 - 18μm)

工作温度：

硅棱镜：-100°C ~130°C

金刚石棱镜：-100°C ~ 180°C 

压力稳定性

硅棱镜：大至30bar

金刚石棱镜：大至300bar