光谱响应/量子效率量测仪

CCD 或CMOS影像感测组件量子效率/光谱响应量测。

产品特色

1. 可量测单一像素点的量子效率。
2. 可量测全数组像素量子效率。
3. 可产生各种所需单色光均匀光源，自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。
4. 可量测CRA特性(选配)
5. 软件可配合用户需求修改(选配)。
6. 为全自动化设计，操作简易。

光谱响应/量子效率量测仪系统优势:
*QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:
*高均匀度
*可产生高均匀度的单色光光斑，在10x10mm²面积内均匀度可以>99%，在20x20mm²面积内仍可维持在>98%。与积分球系统相较，具有更佳的均匀度表现。
*高光强度、高讯噪比
*QE-IS高效率均光系统，以550nm单色光为例，在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm²，相较于积分球系统的单色光强仅1x10^-8 uW/cm²，两者差距千万倍，QE-IS系统量测具备的讯噪比，可精确测出感光组件的量子效率等相关光学特性。 
*可作单像素QE量测
*因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm²@550nm)，打在1 um的像素单元，产生的光电流约在20 pA，相较于积分球系统产生的单一像素光电流在sub-fA以下，QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上，任何单一像素的量子效率。 
*可作全数组像素QE量测
*除单一像素量测，QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号，以量测全数组像素QE。 
*可作CRA量测
*QE-IS的均匀单色光发散角度< 5度，相较积分球的发散角度 >90度，搭配选配的旋转平台，即可量测CRA(Chief Ray Angle)特性。无需额外添购系统，方便整体的量测。

QE-IS與傳統積分球系統的特性比較表

 产品规格

1. 适用影像组件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"

2. 单色光光谱范围: 350~1100 nm (可扩充)
3. 电流分辨率: < 1pA (一般), 电流计小解析能力: 10 fA , 5-1/2 digit resolution
4. 均匀光源规格: 10 mm x 10 mm 
5. 光均匀度> 99 % 
6. 单色光源角度: < 5° (半角)