TF200-XNIR-白光干涉测厚仪_白光干涉薄膜厚度仪-广州贝拓科学技术有限公司手机版

产品简介

TF200白光干涉测厚仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

详细介绍

TF200-XNIR白光干涉测厚仪

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

应用案例

TF200白光干涉测厚仪应用领域

半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等） LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等) LED (SiO2、光刻胶ITO等）

触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等) 汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/*壁厚药膜等）

型号	TF200-VIS	TF200-DUV	TF200-XNIR
波长范围	380-1050nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范围	50nm-40um	1nm-30um	10um-3mm
准确度¹	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90°	90°	90°
样品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
测量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm
是否能在线	是	是	是
扫描选择	XY可选	XY可选	XY可选

注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。

2.可选微光斑附件。