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以色列Duma公司BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪
Duma BeamAnalyze系列刀口式光束质量分析仪,采用刀口式分析原理,可以对连续激光的实时监控,可以精准测量光束强度分布,宽度,位置,功率,基本光束形状以及光束质心和椭圆率的检测。探测器头由多个刀刃组成,以扫描光束并捕获激光的强度分布。可检测190nm到2700nm的光谱范围,有效探测面积为3mm至10mm,可检测光束尺寸最小为3μm,具备高达0.1μm分辨率。
BA3使用3个刀口,适合用于较小的光束测量以及近高斯光束。BA7,使用的刀口越多,层析重建的效果更好,获得的细节水平高,适合明显非高斯形状的光束。
产品特点:
·业界成熟的刀口系统
·层析成像重建算法
·光束测量范围3微米至9毫米
·准确测量轮廓,位置和功率
·多种探测器类型,波长覆盖从深紫外到近红外
产品应用:
·实时测量光束尺寸和高斯拟合(或平顶光束)
·实时绘制光束的二维/三维视图
·激光器的光束质量分析
·激光束分析:轮廓、光束尺寸、位置、功率
型号参数:
传感器类型 | Si/UV-Si/IR/IRE | |
光谱范围 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
刀片数 | 3(BA3头) 7(BA7头) | |
光束尺寸范围 | BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) BA7-Si和BA7-UV(圆形) BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5 | 3μm-5mm 15μm-10mm 15μm-9mm 3μm-3mm 15μm-3mm 3μm-5mm 15μm-5mm |
光束宽度分辨率 | >100μm <100μm | 1μm 0.1μm |
光束宽度精确度 | ±2% | |
功率范围 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | 10μW-1W(有衰减片) 10μW-5mW(无衰减片) |
功率精确度 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | ±5% ±10% |
功率分辨率 | 0.1μW | |
位置精确度 | ±15μm | |
位置分辨率 | 1μm | |
饱和度 | Si和UV-Si探头 | 0.1W/cm2(无衰减片),20W/cm2(NG9) |
测量速率 | 5Hz | |
温度 | 0℃-35℃ |