铁电性能综合测试仪
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Huace铁电性能综合测试仪

参考价: 订货量:
150000 1

具体成交价以合同协议为准
2024-11-18 09:50:14
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北京华测试验仪器有限公司

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产品简介

铁电性能综合测试仪内置完整的专用工控计算机主机、测试版路、运算放大器、数据处理单元等,包括专用工控计算机主板、CPU(i5 或较高)、RAM(8G 或较大)、固态硬盘(250G 或较大)、网卡、USB 接口、DVD 光驱、 VGA 接口、预装 Windows 7 操作系统、铁电分析仪专用测试软件等。

详细介绍



铁电性能综合测试仪



铁电性能综合测试仪产品介绍:

     华测仪器 铁电材料测试系统有着宽频率响应范围及宽测试电压范围。在内置±10V电压下,电滞回线测试频率可高达500KHz;此系统包含HuacePro基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV、10kV、20kV, Huace FE主机在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线、 脉冲、漏电流、IV、CV、击穿测试,也可加载选件实现压电、热释电、TSDC和电卡、阻抗分析、电阻测量等特性测试功能。内置完整的专用工控计算机主机、测试版路、运算放大器、数据处理单元等,包括专用工控计算机主板、CPU(i5 或较高)、RAM (8G 或较大)、固态硬盘(250G 或较大)、网卡、USB 接口、DVD  光驱、 VGA 接口、预装 Windows 7 操作系统、铁电分析仪专用测试软件等。




可扩展部件:

  可与高低温冷热台、高温测试装置、探针台、高压放大器、高阻计、阻抗分析仪、 激光干涉仪、温控控制器、数字源表等扩展。

  块体测试夹具: 用于厚膜、块体铁电、 击穿测试可扩展变温功能。

  薄膜四探针探针台:室温到 250℃ 可用于厚膜铁电、压电 (e31)、热释电测试。

  薄膜宽温区探针冷热台: -196℃到+600℃ 可用于薄膜和厚膜变温的铁电和热释电测试。

  薄膜探针台(国产): 室温铁电测试 可用于薄膜和厚膜室 温铁电性能测试

铁电性能综合测试仪























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