产品简介
德国X射线成像系统 Mu2000主要用于检测电子线路板,半导体产品、微电子元件及电路板焊接器件、铸件等的看不见部分的焊接或铸造缺陷检测、多层绑定芯片的内部看不见的缺陷检测。
详细介绍
德国X射线成像系统 Mu2000产品介绍:
名称:用于2D与CT检验的多用途射线系统
型号:Y.MU2000 -D
产地:德国
应用:主要用于检测电子线路板,半导体产品、微电子元件及电路板焊接器件、铸件等的看不见部分的焊接或铸造缺陷检测、多层绑定芯片的内部看不见的缺陷检测。
德国X射线成像系统 Mu2000产品特点:
- 稳健和成熟的技术
- 使用超过490台
- 高度动态的反射检查(HDR)
- 手动和可编程的检测
- 新功能!轻触按钮,实现快速计算机断层扫描
- 可提供现有系统升级
- 基于解耦操纵器的概念,X射线管和检测器可从检验项目独立移动,优化利用Y.MU2000-D检测封包,在低空间要求检查大型零部件。在不改变焦点-探测器距离(FDD)可能进行X光检测时,光束垂直移动和倾斜,因为X射线管和探测器被相互安装在U型臂上。
- 部件操纵器将辐射屏蔽柜进行手动或选择性机动化移动。和大型装卸门共同运作,确保可轻松交换检测部分。
- 该系统配置用户自定义的工作流程控制和数字图像增强方案时,也能在网络操作。在检测结果整合至公司网络之后,现可迅速、简单和广发获得检测结果,即使是在分散的基础上。
- 通过Y.HDR检查,扫描检查与数字“高动态放射线检查法”相关。结合平板检测器和Y.IMAGE图像处理,检测移动中的检测项目。结果是用表现的图像显示详细的三维特性。(更多信息,请参阅技术 - Y.HDR检测)。
- Y.MU2000-D不仅具有普通射线检测功能,它还配备了可选的计算机断层扫描功能,使得用户可以获得铸件内部更详细的关于缺陷位置和面积的信息。
- Y.MU2000-D 既可以用来做单个样品的检测也可以做系列样品的检测。即使对于钢铁,铝,陶瓷,塑料和橡胶以外的其他材料,它都能提供高水平的材料检测能力。