Nanotrac Wave纳米粒度仪的仪器简介：
纳米粒度测量——动态光背散射技术
随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研发成功，*引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和异相多谱勒频移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技术，结合动态光散射理论和*的数学处理模型，将分析范围延伸至0.8nm-6.5μm,样品浓度更可高达百分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度高出几个数量级。另外，新型“Y”型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，*的减少了背景噪音，提高了仪器的分辨率。

Nanotrac Wave纳米粒度仪的主要技术特点：

• 采用的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
• 的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
• 的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
• 的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度