M2008低频延迟块测厚探头泛美奥林巴斯_奥林巴斯测厚仪-上海遂欧仪器有限公司手机版

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M2008低频延迟块测厚探头泛美奥林巴斯

奥林巴斯M2008接触式探头，Olympus M2008延迟块探头，探头频率0.5Mhz，M208-RM延迟块探头M208-SM测厚仪探头锥形。

经常使用的25mg系列，27mg系列，35系列，45mg系列，38dl系列测厚仪，以及其他市售测厚仪，探伤仪和超声波仪器的Panametrics-NDT的Microscan传感器。

Microscan探头部分的连接器：

RM = 直角的Microdot®
SM = 笔直的Microdot
RB = 直角 BNC
SB = 笔直 BNC
SU = 笔直 UHF

择一个传感器时，请检查下面的图表或咨询规附带的使用说明书中的传感器频率范围。

奥林巴斯Olympus NDT接触式探头

一个的Panametrics-NDT的Microscan接触传感器的优势之一是它的多功能性;一个单一的传感器可以覆盖广泛，在许多工程材料的厚度范围。接触传感器的构造与*的WC-5 wearplate大的耐用性和长的使用寿命。

所有标准双晶探头都具有自动探头识别功能。这个功能可以为每个特定探头自动调用默认V声程校正。

†可提供不锈钢线缆；欲查询详情，*厚度范围取决于材料、探头类型、表面条件和温度。

**高温度下，仅使用间歇接触。

††使用穿透涂层技术的探头。

M2008低频延迟块测厚探头泛美奥林巴斯

接触式探头

频率	晶片直径		探头	工件编号
频率	mm	in.	探头	工件编号
0.5	25	1.00	M101-SB*	U8400017
1.0	25	1.00	M102-SB*	U8400018
1.0	13	0.5	M103-SB*	U8400020
2.25	13	0.5	M106-RM	U8400023
2.25	13	0.5	M106-SM	U8400025
2.25	13	0.5	M1036	U8400020
5.0	13	0.5	M109-RM	U8400027
5.0	13	0.5	M109-SM	U8400028
5.0	6	0.25	M110-RM	U8400030
5.0	6	0.25	M110-SM M110H-RM**	U8400031 U8400029
10	6	0.25	M112-RM M112-SM	U8400034 U8400035 U8400033
10	6	0.25	M112H-RM**	U8400033
10	3	0.125	M1016	U8400015
20	3	0.125	M116-RM	U8400038
20	3	0.125	M116-SM	U8400039
20	3	0.125	M116H-RM**	U8400037

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。
**需使用弹簧加载支架。

Sonopen探头

Sonopen探头的延迟块可以更换，其端部为锥形，可接触到极其狭窄的区域。这种探头可以在测量涡轮叶片厚度及塑料容器的内圆角的厚度等应用中提供可靠的厚度读数。

Sonopen - 15 MHz，3 mm（0.125 in.）探头

平直手柄		直角手柄		45°手柄
工件	工件编号	工件	工件编号	工件	工件编号
V260-SM	U8411019	V260-RM	U8411018	V260-45	U8411017

Sonopen - 可替换的延迟块

*直径		工件	工件编号
mm	in.	工件	工件编号
2.0	0.080	DLP-3	U8770086
1.5	0.060	DLP-302	U8770088
2.0	0.080	DLP-301†	U8770087

†高温延迟，可用于高达175°C的温度。

水浸探头

Panametrics Microscan水浸探头的设计目的是在水中传播并接收超声波。当被测样件的几何形状较为复杂或进行在线检测时，通过水浸技术获得的厚度读数通常更为可靠。典型的离线应用包含对小直径塑料或金属管件的壁厚测量，扫查或旋转测量，以及对大幅弯曲的样件进行的厚度测量。在某些应用中可能需要探头触及到狭小的区域。

频率（MHz）	晶片直径		探头	工件编号
频率（MHz）	mm	in.	探头	工件编号
2.25	13	0.50	M306-SU	U8410027
5.0	13	0.50	M309-SU	U8420001
5.0	6	0.25	M310-SU	U8420004
10	6	0.25	M312-SU	U8420008
15	6	0.25	M313-SU	U8420009
20	3	0.125	M316-SU	U8420011

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的设计目的是简化利用水浸技术的超声测厚操作。

延迟块探头

Microscan延迟块探头可在测量薄材料，温度高，或要求高厚度分辨率的应用中，发挥测量性能。

频率（MHz）	晶片直径		探头	工件编号	支架	工件编号
频率（MHz）	mm	in.	探头	工件编号	支架	工件编号
0.5	25	1.00	M2008*	U8415001	-	-
2.25	13	0.50	M207-RB	U8410017	-	-
5.0	13	0.50	M206-RB	U8410016	-	-
5.0	6	0.25	M201-RM	U8410001	-	-
5.0	6	0.25	M201H-RM	U8411030	2127	U8770408
10	6	0.25	M202-RM	U8410003	-	-
10	6	0.25	M202-SM	U8410004	-	-
10	6	0.25	M202H-RM	U8507023	2127	U8770408
10	3	0.125	M203-RM	U8410006	-	-
10	3	0.125	M203-SM	U8410007	-	-
20	3	0.125	M208-RM	U8410019	-	-
20	3	0.125	M208-SM	U8410020	-	-
20	3	0.125	M208H-RM	U8410018	2133	U8770412
20	3	0.125	M2055**	U8415013	-	-
30	6	0.25	V213-BC-RM**	U8411022	-	-

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。
**这些探头中的延迟块不能替换。

可替换的延迟块

延迟块的作用是在被测样件表面与探头晶片之间充当保护性缓冲器。

晶片直径		延迟块		大厚度测量*
mm	in.	工件	工件编号	钢- 模式2		钢- 模式3		塑料- 模式2
mm	in.	工件	工件编号	mm	in.	mm	in.	mm	in.
13	0.50	DLH-2	U8770062	25	1.0	13	0.5	13	0.5
6	0.25	DLH-1	U8770054	25	1.0	13	0.5	13	0.50
3	0.125	DLH-3	U8770069	13	0.5	5	0.2	5	0.2

产品简介

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奥林巴斯Olympus NDT接触式探头