多功能扫描探针显微镜

BS53-SPA-400多功能扫描探针显微镜

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-01-02 17:00:00
800
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北京中世远达商贸有限公司

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产品简介

可在大气、液体及电化学条件下对样品微区(微米至纳米量级)进行形貌及其物理特性的观测分析。

详细介绍

多功能扫描探针显微镜 型号:BS53-SPA-400 货号:
主要用途:
可在大气、液体及电化学条件下对样品微区(微米至纳米量级)进行形貌及其物理特性的观测分析。

主要特点介绍:
1、多功能测量:能实现高分辨的形貌测量,除用于测量各种物质的表面形貌外,能测量多种材料如无机物非金属材料、金属材料、高分子材料、复合材料和生物材料的多种物性,包括磁力、摩擦力、粘弹性、表面电位势、静电力、压电响应、电流像、电流隧道谱、电容等等。
2、液体及电化学环境测量:实现液体环境下进行接触式和轻敲式AFM测量以及电化学环境中进行AFM及STM测量。
3、*的功能(详细功能介绍请参见下述功能模式介绍):

4、精密的设计:系统包含防震和隔音设备,满足一般条件下进行各种高分辨的测量;并可与多种设备联用,如纳米力学系统、铁电分析仪等。

测试功能:
*DFM (动态力模式,包括非接触式和间歇接触式原子力模式)
*Phase Mode(相位模式)
*FFM (摩擦力模式)
*MFM (磁力模式)
*Vector Scan(矢量扫描,纳米刻蚀)
*Raster Lithography(纳米加工)
*Force vs Distance Curve (力曲线测量模式)
Physical Property Measurement(物理特性测量可选单元):
*VE-AFM/VE-DFM (微区粘弹性测量模式)
*LM-FFM (切向调制摩擦力测量模式)
*Adhesion Mode (微区粘性测量模式)
*KFM for Surface Potential Microscope (表面电位势测量模式KFM)
*EFM (静电力测量)
*Piezo-Response Force Microscopy(压电响应力模式)
*SNDM(扫描非线性介电显微镜,即扫描电容模式)
Electrical Measurement(电特性测量可选单元):
*STM(扫描隧道测量模式)
*AFM with Current measurement Mode (AFM同时电流测量模式)
*AFM-CITS (AFM电流隧道谱)
Meas urement in Liquid and EC-SPM(液体及电化学测量可选单元):
*Contact AFM in Liquid(液体中接触式AFM测量)
*DFM in Liquid(液体中DFM测量)
*Electro Chemical AFM/STM(电化学AFM/STM)



 

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