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磁体表面磁场分布测量仪/多极磁波仪测量报告

时间:2023-09-01      阅读:175

磁体表面磁场分布测量仪是一种微机控制用于磁体表面磁场分布测量的仪器。多极磁波仪由机箱、样品台、测量探头及支架、计算机组成。机箱中有提供被测样品旋转的步进电机和控制及测量电路,控制样品的旋转、测量信号采集处理及测控数据与计算机之间的通讯。
样品台用于夹持被测样品。
测量探头支架用于支撑和调整磁场测量探头,使得探头与被测样品之间处于适合测量的位置。磁场测量探头用于把被测样品的表面磁场转换为电信号。
计算机用于输入被测样品信息、控制测量过程进行、收集处理并显示测量数据及存储相关数据。
技术规格
磁场测量探头:Hall探头测量磁场;横向探头/轴向探头选择;磁场量程:4mT,40mT,400mT,4T
样品定位夹具:无磁性且精度高的夹具,同心度精度高
X,Y,Z三方向移动范围:X,Y,Z三坐标垂直精度高;X,Y方向移动范围:100mm;Z方向移动范围:120mm;分辨能力:0.01mm
旋转同心度:旋转同心度高,经过严格校准
A/D采集:16Bit
旋转测量分辨力:12000 点/360 o
测量软件:Windows XP环境,测量数据可以EXCEL:形式保存在硬盘,可随时查询
测量报告:可以选择X-Y座标或极坐标方式打印。133110544230203195.jpg
仪器供电:AC 220V, 50Hz, 15A

GG-AB阿贝折射仪检定装置

阿贝折射仪是利用全反射临界角原理,测量透明、半透明液体或固体的折射率(nD)和平均色散(nF-nC)的仪器。
阿贝折射仪检定装置用于检定阿贝折射仪或其它利用阿贝折射原理的计量仪器。
测量范围:
阿贝折射仪检定装置的折射率测量范围为1.47~1.68。
测量不确定度
阿贝折射仪标准块的折射率测量不确定度:5×10-5(k=3)
阿贝折射仪标准块的平均色散测量不确定度:7×10-5(k=3)
仪器组成:
阿贝折射仪检定装置由四种阿贝折射仪标准块,三种折射液及一个钠光灯和灯源组成。
四种阿贝折射仪标准块均为长方形块,分别由轻冕玻璃QK1,冕玻璃K9,火石玻璃F2,重火石玻璃ZF2四种.光学玻璃材料加工制成。

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