单波长椭偏仪(激光椭偏仪)

单波长椭偏仪(激光椭偏仪)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-01-11 14:00:00
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安合盟(天津)科技发展有限公司

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产品简介

系统规格:波长:637nm入射角:连续,30~90°(±0.03°)样品尺寸:4inch~8inch精度:(1200A SiO2标准片,5times) TKS±2.5A/N±0.005尺寸:80cm×34cm×42cm应用:镀膜工艺 *化及监控 SiNx减反膜工艺 TiO2减反膜工艺 复合SiNx减反膜工艺SiO2钝化工艺复合SiNx/SiO2减反膜工艺SiO2掩膜工艺

详细介绍

系统规格:
波长:637nm
入射角:连续,30~90°(±0.03°)
样品尺寸:4inch~8inch
精度:(1200A SiO2标准片,5times)
TKS±2.5A/N±0.005
尺寸:80cm×34cm×42cm

应用:
镀膜工艺 *化及监控
 SiNx减反膜工艺
 TiO2减反膜工艺
 复合SiNx减反膜工艺
SiO2钝化工艺
复合SiNx/SiO2减反膜工艺
SiO2掩膜工艺

软件特征:
整合量测、分析、计算
操作模式安全化
同步原始数据呈现
硬件特征:
半导体镭射光源
三格林泰勒棱镜偏振系统
波长:260-1800nm
消光比:>105
发散角:≤3mrad
真空吸附载物台
自动连续入射角(零度校正)
高分辨率半导体探测器

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