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系统规格:
波长:637nm
入射角:连续,30~90°(±0.03°)
样品尺寸:4inch~8inch
精度:(1200A SiO2标准片,5times)
TKS±2.5A/N±0.005
尺寸:80cm×34cm×42cm
软件特征:
整合量测、分析、计算
操作模式安全化
同步原始数据呈现
硬件特征:
半导体镭射光源
三格林泰勒棱镜偏振系统
波长:260-1800nm
消光比:>105
发散角:≤3mrad
真空吸附载物台
自动连续入射角(零度校正)
高分辨率半导体探测器