107JPC精密测量显微镜(新款)
■ 产品简介
107JPC测量显微镜小型、多用途的精密测量显微镜，结构紧凑、成像清晰、精度高，可作二维坐标的精密测量。仪器带有可调光的落射、透射及多种滤色镜，给各种复杂形状的测量工作带来很大方便。可连接CCD摄像头，亦可连接计算机进行数据处理。
■ 产品特点
107JPC配有计算机图像处理系统。利用摄像头在计算机屏幕上直接瞄准，操作方便，可靠性强。通过计算机接口和二维测量程序可使被测工件的轮廓直接显示在计算机屏幕上并可进行编辑。二维测量程序包括点、线、园、弧、直线度、圆度、螺纹、凸轮等测量功能。本仪器放大倍数高，工作台除作X，Y坐标的移动外，还可以作360°的旋转。照明系统可作透、反射照明。
■ 测量软件
Ø 辅助对焦
Ø 十字线采点
Ø 元素测量与预制：点、线、圆、弧、槽、椭圆、矩形、圆环、云线、角度、焦面;
Ø 元素构造:中心点、交点、中点、线、园、角度、距离、云线等的构造;
Ø 图形处理:坐标平移、工件摆正、任意轴摆正，坐标系重置圆形缩放、图形平移、图形选中及删除等多种处理，测量更方便更快捷，提高测量效率;
Ø 测量方法多样（自动寻边、对比测量、局部放大采点），可以满足用户不同需求，大大提高使用的方便性和测量精度;
Ø SPC专业统计分析工具，分析图形有平均数全距管制图、直放图、CPK偏移图，利用数据统计原理, 有效控制生产，不断改进品质;
Ø 测量数据直接发送到AutoCAD中，测量的图形可以用dxf文档保存，也可发送到Excel中进行统计分析
Ø 计录用户程序、编辑命令、教导执行;
Ø 支持双显示器和多种语言界面的切换;
Ø 用户可根据测量精度需求选择多点测量、规定点数测量、放大采点构造、对比方波进行工件测量;
Ø 软件带有系统误差修正功能。目前可对坐标定位系统误差和垂直度系统误差进行补偿。对坐标定位系统误差的补偿，有线性补偿和区段补偿两种方法可供选用。
■ 仪器规格
1.测量范围： X:100mm;Y:100mm
2.工作台尺寸： 250×250mm
3.数显分辨率： 0.0005mm
4.仪器的回程误差： 0.002mm
5.仪器测量准确度： ≤（3+L/25）um（L为被测长度）
6.仪器的质量： 32.5kg
7.仪器外形尺寸： 420×550×600mm
8.输入电压： AC220/50Hz ±10%（工作照明电压5V/LED）
9.光学基本参数

物镜 目镜 总放大倍数 工作距离(mm) 放大倍数/数值孔径 放大倍数 5×/0.15 10× 50× 26.45 10×/0.25 100× 11 20×/0.40 200× 5.4 50×0.55 500× 1.9