LW-手机侧键打击寿命试验机

一、LW-手机侧键打击寿命试验机产品说明：

•         荷重打击寿命试验机可对手机、MP3、电脑、电子词典、摇控器、橡胶按键等做荷重打击寿命测试，荷重打击寿命试验机适用于检测按压开关、轻触开关、薄膜开关、锅仔片等各类按键开关进行打击寿命试验。

•        荷重打击寿命试验机适用于按键开关、电脑键盘、导电橡胶按键、金属弹片按键（俗称锅仔）或同类型按键的打击寿命老化试验，按键开关打击寿命试验机采用先进的编程器控制按键寿命试验全过程。

•        荷重打击寿命试验机同时适用于硅橡胶类按键作疲劳测试；按键开关打击寿命试验具有速度可调，次数任意设定及同时测试数个产品（每个产品均可多点测试），到达次数或掉电停机后保持数据。另按键开关打击寿命试验机可对每个按键设定不同压力及不同高度。 按键开关打击寿命试验机同时采用每个打击头分开控制，设计更为人性化,能满足客户不同的测试需求。

二、标准本体参数：

三、标准配置：

1. 按键寿命试验机本体壹台；

2. 直径2、4、6、8、10mm打击测头各6个；

3. 内六角扳手壹套；

4. 电源线1条、电子秤(2000g)1台；

5. 按键开关打击寿命试验机说明书、保修卡、合格证各一份。