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NMH-01内型面测量仪
对于精密孔加工零件，例如航空航天仪器中的燃料喷嘴、医疗器械中的中空零件、分析仪中的精密喷嘴和流体动力轴承，内周表面评估的重要性日益增加。
现有的测量仪器可以评估内径较大的加工零件的内径、圆度、表面粗糙度和形状。然而，除非将零件的主体切成两半，否则这些仪器无法测量孔加工零件。 参考价面议 -
LODAS晶圆缺陷检测系统
可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为100 纳米，主要用于半导体光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、内部、背面的缺陷检查 。 参考价面议 -
OPTELICS HYBRID+白光共聚焦显微镜
日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦显微镜,将激光和白光源组合在一体,用于多功能高性能共聚显微镜.两组共焦光学器件与附加器件相结合,包括干涉仪,微分干涉对比观察和光谱反射膜厚度测量仪。 参考价面议 -
Micro Support Axis Pro微区取样仪
微型取样仪是微小物体分析强有力的辅助手段，在显微红外、显微拉曼、XRD、SEM和TEM检测中，经常会遇到微小待测物被覆盖、包埋、粘连等问题，有时候待测位置难以采集信号必须将待测物取出，还有时会因为待测物尺寸小于仪器检测极限带来许多难题，而微区取样仪可以帮助用户轻松解决。 参考价面议 -
PHL双折射测量仪PA-300
PHL双折射测量仪PA-300是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 参考价面议 -
双折射测量仪PA-Micro
双折射测量仪PA-Micro是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 参考价面议 -
球坑测厚仪bct1000
球坑测厚仪bct1000采用优质机械加工部件和简单的操作，使得BCT1000球坑测厚仪，特别适合于要求快速测量硬质涂层（1um）的厚度。 参考价面议 -
显微型曝光装置
显微型曝光装置
UTA系列是将DLP投影仪盒金相显微镜相结合的缩小投影型无掩模曝光系统，其*传统系统（用于掩膜光刻的图案投影曝光系统） 可以使用专门为此目的开发的软件来创建想要的图案。 参考价面议 -
工业级皮秒激光器
工业级皮秒激光器
随着中国科技水平的提升，对材料的高精度加工需求越来越多，特别是对于脆，硬的蓝宝石，3D玻璃等透明材料高精度加工要求，常规的光纤激光器，纳秒固体激光器无法满足要求，而皮秒，飞秒超快激光器确能游刃有余，而飞秒激光器价格昂贵，皮秒激光器是性价比好的激光器。欧屹科技提供平均功率10W，25W，40W等多款皮秒激光器，以其稳定性高，集成方便，适应严苛的工业环境而应用工业超快激 参考价面议 -
激光测距激光雷达激光器
激光测距激光雷达激光器
欧屹科技在激光测距和激光雷达方面具有多年经验，欧屹科技自行研发的小型激光器广泛应用从基于FoT技术的几百米测距，到5公里，10公里，30公里测距领域，欧屹科技代理的欧美的激光器应用于多普勒激光雷达领域，在激光测距和激光雷达领域，我们的激光器单价从几千元到几十万元，涵盖几乎所有的应用。 参考价面议 -
半导体激光外延片
半导体激光外延片
欧屹科技十余年来耕耘于半导体激光领域，与日本，英国，美国，德国等半导体激光芯片外延厂商合作，无论是单管激光芯片，还是bars,stack芯片都可以提供，主要尺寸包括2吋，4吋，6吋芯片，波长从405nm-1200nm，探测器芯片也可以提供，欧屹科技为您提供性价比高的产品和服务。 参考价面议 -
激光产品单管半导体激光器
欧屹科技十余年来耕耘于半导体激光领域，与日本，英国，美国，德国等半导体激光厂商合作，可以为您提供日亚，欧司朗，相干，光谱物理，耶拿多个厂商的产品，波长从UV到NIR,激光输出功率从mW到10W,欧屹科技致力于为客户提供性价比高的激光产品单管半导体激光器和服务。 参考价面议