仪器特点 ：

计算机全数字化控制，操作简捷直观。
步进马达自动进行针尖--样品逼近，保证实验圆满成功。
深度陡度测量，三维显示。
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。
Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡
样品观测范围从0.001um-20000um。
扫描速度达40000点/秒
可选配纳米刻蚀功能模块。
 
技术指标 ：

SPM探头
样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大扫描范围：标准6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(轻敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式)
Ｚ向分辨率：0.05nm(轻敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式)
XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米
步进马达自动进行针尖-样品逼近
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)
电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配）
全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购）
 
电子学控制器 ：

XTZ控制 18-Bit D/A
数据采样 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样
Z向反馈 DSP数字反馈
反馈采样速率 64.0KHz
高压放大器 集成高压运算放大器，zui大电压范围+/-150V
频率范围 20K-1000KHz
幅度范围 0-10.0V
扫描速率 >40000点/秒
扫描角度 0-360度连续可调
扫描偏移 任意
图像采样点 256X256或512X512
步进马达控制 手动和自动进退
计算机接口 标准RS232串行/USB