耐火材料的原料和产品种类很多， 
有高铝质、铝硅质、硅质、镁质、锆英 
石质、铝铬质等等，由于不同样品的基 
体效应不一样，而且不同样品的制样条 
件也有差异，通常对于每一种耐火材 
料，要建立相应的X射线荧光光谱分析 
曲线。 
布鲁克公司经过多年的研究和实 
践，开发了可以校正不同基体的变动理 
论α系数校正方法。本报告采用S4 
Pioneer型波长色散X射线荧光光谱仪 
和Spectraplus基体效应校正软件，建立 
了一种行之有效，元素分析范围宽，适 
合多种耐火材料的X荧光光谱快速分析 
方法。采用一条校准曲线就可以分析各 
种耐火材料中含量范围从0.01~*的 
所有成分。