技术参数
·信息分辨率极限 U-TWIN 0.10nm ;S-TWIN 0.14nm
·点分辨率 U-TWIN 0.17nm ;S-TWIN 0.20nm
·高分辨STEM分辨率 U-TWIN 0.14nm ;S-TWIN 0.19nm
·样品zui大倾角 S-TWIN +/- 40°

主要特点
·高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子
  尺度分析
·所有的*分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、
  STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱
  图、全息技术和Lorentz透镜技术
·强样品穿透能力
·*性能的能量过滤透射电镜和电子能量损失谱分析
·超稳定的聚焦、高压、能量色散、束斑、对中和样品
  台