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有研总院扫描电子显微镜分析
国家有色金属及电子材料分析测试中心电镜室，配备三台扫描电镜，JSM-7001F 场发射型扫描电镜，JSM-6510以及JSM-840 扫描电镜。其中，JSM-7001F配备了EDS与EBSD 一体化分析系统，不仅能够开展高分辨的二次电子像观察，还可以实现各种晶体材料的形貌、成分、结构及取向分布的一体化分析。JSM-6510配备了能谱仪及 MLA 矿物分析软件，能够自动快速测定矿物组成及含量。 参考价面议 -
辉光放电质谱检测（GDMS检测）
国家有色金属及电子材料分析测试中心，拥有美国Thermo Fisher公司型号的Element GD辉光放电质谱仪(GDMS)，适用于金属中ppb级及其以上含量的杂质分析，可以检测5N、6N高纯铝、铜、锌、镍、钴、多晶硅中的痕量和超痕量杂质元素。 参考价面议 -
有研总院高纯金属检测（GDMS辉光放电质谱检测）
国家有色金属及电子材料分析测试中心引进了美国Thermo Fisher公司型号的Element GD辉光放电质谱仪(GDMS)，适用于金属中ppb级及其以上含量的杂质分析，可以检测5N、6N高纯铝、铜、锌、镍、钴、多晶硅中的痕量和超痕量杂质元素。 参考价面议 -
有研总院电子背散射衍射（EBSD）
EBSD（电子背散射衍射）技术主要用于快速获取晶体材料的晶体学信息，可对材料进行织构和晶粒间取向差分析，晶粒尺寸及形状分布分析，晶界、亚晶及孪晶分析，应变和再结晶的分析，以及相鉴定和相含量计算等，解决材料在结晶、薄膜制备、半导体器件、形变、再结晶、相变、断裂、腐蚀等过程中的问题。 参考价面议 -
有研总院X射线衍射物相检测（XRD分析）
国家有色金属及电子材料分析测试中心可以进行，各种矿石、钢铁、有色、稀有金属材料、半导体材料、*复合材料及功能材料的物相定性、定量分析、点阵常数（晶格常数）计算。 参考价面议 -
有研总院电镜样品制备
国家有色金属及电子材料分析测试中心，配备扫描电镜制样用快速喷碳仪、喷金仪。配备透射电镜制样用电解双喷仪、慢速切割机、凹坑仪以及Gatan 691离子减薄仪，可为客户提供各种制样服务。 参考价面议 -
有研总院透射电子显微镜分析
国家有色金属及电子材料分析测试中心电镜室，拥有JEM-2000FX分析型透射电子显微镜，JEM-2010高分辨型电子显微镜以及JEM-1000超高压透射电子显微镜。可为客户提供金属材料、各种粉末、薄膜材料、纳米材料的微观组织结构的综合分析。在轻金属结构材料（铝合金、镁合金及钛合金）、薄膜材料、纳米材料及磁性样品的分析上具有丰富的分析经验。 参考价面议