尼克斯膜厚仪QNIX4200

尼克斯膜厚仪QNIX4200

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2024-11-08 22:56:18
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重庆市松朗电子仪器有限公司

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产品简介

尼克斯膜厚仪QNIX4200

详细介绍

简介

尼克斯膜厚仪QNIX4200是探头与主机一体化式金属涂层测厚仪。用于测量非磁性基体(如铜,铝,不锈钢)上的涂层,如油漆、各种防腐层、粉喷涂等。

测量方式:将仪器探头垂直接触被测物的表面,仪器将自动开机并测得数据。注意:测量时务必要使探头垂直接触被测物表面。

尼克斯膜厚仪QNIX4200调零

仪器在测量前,为减少测量误差,应在基体上取零位作基准。可以用没有涂层的工件表面也可以用随仪器带基体。用仪器测量基体,如显示0,表明已是零位,不用再调零。如不显示0,则需要调零。将仪器探头压在调零板或未喷涂的工件表面上,不要抬起,按一下仪器上的红键松开,液晶显示一组数后,拿开仪器,液晶显示0,调零完毕。注意:由于工件表面粗糙度的原因,调零后,再测时不一定是零位,这是正常现象。

尼克斯膜厚仪QNIX4200显示方式

Fe:测量铁磁性基体模式

NFe:测量非磁性基体模式

Err:操作失误

INFI:探头模式与被测基体不符

BAT:电量不足,需换电池

技术参数

型 号

QNix4200

QNix4500

基 体

Fe

Fe/NFe

探头形式

一体

显 示

LCD数字显示

测量范围

0-3000μm

Fe:0-3000μm NFe:0-2000μm

测量精度

0-50μm amp;plusmn;1μm,50-1000μm amp;plusmn;1.5,1000-2000μm amp;plusmn;2,2000-5000μm±3

显示精度

1μm

工作温度

-10 - +60

温度补偿

0-50

基体面积

大于10mm×10mm

曲率

凸、凹半径:3mm/25mm

基体厚度

大于Fe:0.2mm,NFe:0.05mm

电 源

5号电池2节

重 量约

110g

尺 寸约

110X60X27mm

 


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