梅特勒XPE 分析天平_电子分析天平-苏州佐藤精密仪器有限公司手机版

梅特勒XPE 分析天平

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2017-01-03 10:30:56: 577

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产品简介

梅特勒XPE 分析天平
梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。超越系列分析天平将获得的梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得*的称量结果！

详细介绍

梅特勒XPE分析天平规格参数

产品	量程	可读性	zui小称量值 (USP)，典型值	重复性	线性误差（典型值）±
XPE 105 分析天平	120.0 g	0.01 mg	14.0 mg	0.015 mg	0.1 mg
XPE204	220.0 g	0.1 mg	80.0 mg	0.05 mg	0.2 mg
XPE205	220.0 g	0.01 mg	14.0 mg	0.015 mg	0.1 mg
XPE205DR	81.0 g; 220.0 g	0.01 mg; 0.1 mg	14.0 mg	0.015 mg	0.15 mg
XPE504	520.0 g	0.1 mg	80.0 mg	0.08 mg	0.4 mg

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