SS1-STD3 SunScan冠层分析系统
时间：2023-03-29 阅读：298
用途：SS1-STD3 SunScan冠层分析系统是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。本系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作。
特点：
·可测量冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）；
·可直接显示叶面积指数（LAI）；
·阴天和晴天均可使用；
·理想的表型的应用程序。
技术参数：
Sunscan传感器 | |
探测区域 | 长1米×宽13毫米，传感器间距15.6毫米 |
光谱范围 | 400~700nm（PAR） |
测量时间 | 120毫秒 |
最大读数 | 2500 μmol.m-2.s-1 |
分辨率 | 0.3 μmol. m-2.s-1 |
线性 | 优于1% |
精度 | ±10% |
模拟输出 | 1mV/μmol. m-2.s-1 |
通讯端口 | RS232，9针D型接口 |
防护等级 | IP65 |
工作温度 | 0~60℃ |
尺寸 | 1300×100×130毫米 |
重量 | 1.7公斤 |
供电 | 4节AA碱性电池，可以使用1年 |
掌上数据管理器 | |
显示屏 | 1/4 VGA防日光显示屏 |
操作系统 | Windows Moble 6 |
显示选项 | 叶面积指数（LAI）、平均光合有效辐射、所有单个传感器的读数 |
防护等级 | IP67 |
工作温度 | -30~+60℃ |
跌落高度 | 1.2米 |
供电 | 可充电电池，可连续使用12小时 |
内存 | >100MB可用 |
尺寸规格 | 165×95×45毫米 |
重量 | 450克 |