MATRIX_红外/近红外进程分析仪-南京赫冠科学仪器有限公司手机版

详细介绍

布鲁克公司屡获殊荣的 MATRIX 系列傅立叶红外和傅立叶近红外过程控制光谱仪，可直接在过程反应釜或管道内测量，从而更好的理解和控制生产过程。

傅立叶近红外分析技术的实时在线监控的优势已。然而，传统的光谱仪只能安装在靠近监控生产线的地方，这意味着将分析操作人员暴露在高温高湿、噪音、粉尘等恶劣环境中。而且，测量点有时很难接近，甚至是防爆等危险区。

通过利用光纤技术，MATRIX-F 主机可与实测点相距数百米，将探头直接安装在采样点，大大简化了工业现场测试的难度。此外，当环境特别恶劣时可将主机置于带空调的工业小屋内，这样可以消除温度影响，进一步优化光谱仪的性能，还可以保护 MATRIX-F，防止其遭受过度污垢和灰尘。

MATRIX-F 是目前的只用一台仪器就可对物料进行接触式测量和非接触式测量的光谱仪。有不同的测量附件可供使用：

光纤探头：可根据需要配置漫反射、透反射或不同光程长度的液体透射探头，以及流通池或其他试验性装置。还可根据物料性质选择配置不同材质的探头，如不锈钢、哈氏合金或陶瓷

非接触式测量的发射探头：非接触式发射探头内置钨灯光源，可以直接照射样本，并将收集的散射漫反射光通过光纤传输至光谱仪。通过这种方式，可以进行远程非接触式测量，实现一系列全新应用。它可以提供多达六个流通池或探头的光纤连接MATRIX-F emission或MATRIX-F duple。

MATRIX-F不仅可以配置传统光纤探头和流通池，还可配置非接触式测量的发射探头

根据您的需求，MATRIX-F可以配置：

MATRIX-F: 经典 FT-NIR 光谱仪，通过光纤连接流通池或浸入式探头，用于固体或液体分析。

MATRIX-F emission: 特别版 MATRIX-F 光谱仪，通过光纤连接非接触式发射探头，仅用于非接触式测量。

MATRIX-F duplex：经典 MATRIX- F 的扩展型号，可同时连接常规光纤探头和非接触式发射探头。

技术

MATRIX-F 是一款专用 FT-NIR过程光谱仪，经得任何考验。

仪器使用的光谱技术，在紧凑的模块系统中实现出色的灵敏性和稳定性。其创新设计提供始终如一的高质量检测结果，并节约停机时间，模型直接传递，在新应用中并不会降低灵敏度和精度。支持工业标准通信协议，确保轻松集成。

MATRIX-F 可安装在实验室作为一立式系统，开发合适的方法，并可直接转到您的过程应用分析。使用NEMA 4/IP66（防溅型），MATRIX-F不仅可成为独立系统，还可放入标准的 19 英寸工业机柜中。MATRIX-F可装配6通道光纤扩展模块。

MATRIX-F ex-proof

MATRIX-F 通过ATEX 防爆认证，并符合以下标准：

II 2G Ex px II T6 Gb

II (1) G [Ex op is T4 Ga] II C

维护

MATRIX-F 的设计确保了可靠性且易于维护。预对准安装座上的消耗部件是用户可更换的，无需重新对准光学元件。仪器可以快速维修，以限度地减少对制造过程的干扰。

仪器性能验证

MATRIX-F 光谱仪内部配备有标准材料和滤光片的自动滤光轮，由 OPUS 软件的 OVP（Optics Validation Program）程序控制，自动按照相关标准对仪器进行性能检测，并对仪器性能指标进行评估，以确定仪器运行状态是否正常、规范。

连接性

CMET软件提供工业标准接口(OPC)可以集成到各种过程控制环境中，支持各种标准通信协议，包括4-20mA、Modbus、Profibus DP 和OPC。

技术被如下保护：US 7034944