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　　单晶体，或直探头通常用于测量厚度和在板材，棒材，锻件，铸件和挤压中的缺陷检测。直接适用于在测试材料或对象的平面检测。小直径的传感器可用于测试略呈弧形的表面。

　　

　　单晶探头概述

　　

　　声纳标准型单晶直探头如下：

　　

　　高阻尼单晶直探头 (SLH)

　　

　　普通纵波检测，分层检测，厚度测量，金属，玻璃，陶瓷，瓷器，复合材料。

　　

　　中阻尼单晶直探头(SLM)

　　

　　常规标准探头，用于检测从小到大的不同材料和几何尺寸的零件，比如：金属、玻璃、陶瓷、复合材料。

　　

　　可更换软保护膜型单晶直探头 (SLF)

　　

　　用于接触法检测粗糙的、铸造的、麻点或摩擦的表面，具有zui小的探头磨损，可检测铸件、锻件、钢坯等。

　　

　　大尺寸低频率 (LLF)

　　

　　用于接触法检测，探头磨损非常小，可检测具有粗糙、铸造、有麻点或磨损表面的大型或高衰减性工件如：铸件、锻件、钢坯。

　　

　　高阻尼小尺寸单晶直探头 (SLP)

　　

　　与SLH系列探头具有相同阻尼，但外壳尺寸很小，可进入到很难到达的区域。

　　

　　通常作为搜查探头用，可用在飞机工业、机械加工、复合材料等领域。

　　

　　低阻尼单晶直探头 (SLC)

　　

　　这些纵波接触式探头适用于要求穿透深度比近表面分辨率更重要的应用场合，比如：棒材和钢坯。

　　

　　高祖尼单晶直探头 (SLG)

　　

　　常规探头，用于检测不用材料的小至大的零件，如：金属，玻璃，陶瓷和瓷器。