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　　【仪器网 行业应用】X射线光电子能谱仪是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态，常与俄歇电子能谱技术配合使用。由于X射线光电子能谱技术可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以不仅能为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，而且还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、化学状态、分子结构以及化学键方面的信息。

 

　　分析特点：
 

　　1、可以分析除H和He以外的所有元素，对所有元素的灵敏度具有相同的数量级。
 

　　2、相邻元素的同种能级的谱线相隔较远，相互干扰较少，元素定性的标识性强。
 

　　3、能够观测化学位移。化学位移同原子氧化态、原子电荷和官能团有关。化学位移信息是XPS用作结构分析和化学键研究的基础。
 

　　4、可作定量分析。既可测定元素的相对浓度，又可测定相同元素的不同氧化态的相对浓度。
 

　　5、是一种高灵敏超微量表面分析技术。样品分析的深度约2 nm，信号来自表面几个原子层，样品量可少至10-8g，灵敏度可达10-18g。
 

　　应用领域：
 

　　X射线光电子能谱仪的应用领域十分广泛，不仅可以对固体样品的元素成分进行定性定量或半定量及价态分析，而且还可以对样品表面的组成组分及其化学状态进行分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定及富集法微量元素分析等领域。
 

　　1、样品表面1-12nm的元素和元素质量；
 

　　2、检测存在于样品表面的杂质；
 

　　3、含过量表面杂质的自由材料的实验式；
 

　　4、样品中一种或多种元素的化学状态；
 

　　5、一个或多个电子态的键能；
 

　　6、不同材料表面12 nm范围内一层或多层的厚度；
 

　　7、电子态密度测量。