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　　【仪器网 解决方案】虽然X荧光光谱的互相干扰情况比较少，而且大多数情况下对分析结果的影响不大，但是在某些情况如稀土化合物中稀土元素的测定，仍然需要克服干扰谱线。因此，操作人员也需要掌握一些消除干扰谱线的方法。
 

　　激发源
 

　　对于X射线管说来，可以根据可能产生谱线干扰的来源，更换适当靶材的x射线管，选择足以抑制干扰谱线出现的管压，将样品屏蔽到较小的区域以减少强大的原级标识光谱的散射等。
 

　　若还不能有效地克服来自激发源的干扰时，有时也可以采用滤光片以消除干扰线，或者以原级束照射能够产生波长略短于分析元素吸收限的次级靶，然后以次级靶作为试样的激发源。
 

　　分析晶体与光路
 

　　对一定结构的x射线分光计说来，可以通过选择适当的分析晶体，以消除存在于样品中干扰元素的偶数级反射线对分析线(或参比线)干扰。此外选择分辨率高的分析晶体和准直器，有时也可以消除或减轻某些谱线的干扰。
 

　　其它的，在光路中可变 的部件就是标本座、样品的薄膜底座和x射线束衰减 (减光板)等。有时，还有可能用到滤光片，对于这些可变的部件，可以根据实际情况作出选择，以便将谱线干扰限制在低限度。
 

　　探测和测量系统
 

　　尽可能选择有利工作条件，以减少或消除上述激发源和光学系统无法消除的干扰谱线。