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　　根据国家市场监督管理总局下达的国家计量技术规范制修订计划，全国几何量长度计量技术委员会已完成《自准直仪检定规程》《扫描探针显微镜校准规范》的征求意见稿。为使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，现向全国有关单位及专家公开征求意见和建议。意见反馈邮箱：mtc2@nim.ac.cn。
 

　　《自准直仪检定规程》
 

　　自准直仪是一种用于小角度测量的精密计量仪器。它与多齿分度台配合使用，可用于测量正多面棱体、角度块等角度量具。与正多面棱体配合可以用于测量多齿分度台、转台等圆分度仪器。与平面反射镜配合使用，可用于测量直线度、平面度、平行度、垂直度、楔角以及其他相对位置关系的测量要素。是角度计量中的重要仪器。按自准直仪瞄准方式不同可分为光学自准直仪和光电自准直仪，光电自准直仪按其读数的方式不同又可分成指针式和数显式。
 

　　JJF 1002《国家计量检定规程编写规则》、JJF 1001《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1《测量不确定度评定与表示》、JJF 1094—2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑规程制修订工作的基础性系列规范。与 JJG 202-2007 相比，除了编辑性修改之外，本规程主要技术变化如下：
 

　　——增加 0 级自准直仪。
 

　　——删除光电瞄准时灵敏度调节引起的指示表指零变化的计量性能要求，并删除相应检定方法。
 

　　——删除自准直光束的平行度对示值的影响的计量性能要求，并删除相应检定方法。
 

　　——删除光电自准直仪鉴别域的计量性能要求，并删除相应检定方法。
 

　　——增加光电自准直仪的示值跳动的计量性能要求。
 

　　——修改示值误差要求、描述和检定方法。
 

　　——删除计量器具中的光学角规。
 

　　——删除计量器具中的检验平尺。
 

　　——删除计量器具中的专用光阑。
 

　　——修改检定项目表。
 

　　——删除附录光电自准直仪用光学角规检定方法。
 

　　依据JJF 1002《国家计量检定规程编写规则》，本规范在架构上包括：范围；引用文件；概述；计量性能要求；通用技术要求；计量器具控制以及附录等内容。
 

　　本规程适用于光电自准直仪、光学自准直仪的首次检定、后续检定和使用中检查。其他类型的自准直仪亦可参考本规程。
 

　　《扫描探针显微镜校准规范》
 

　　扫描探针显微镜具有高分辨力、实时、原位成像等特征。对样品无特殊要求，不受样品的干燥度、形状、硬度、纯度等限制，可在大气、常温环境甚至是溶液中成像。广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域。
 

　　JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001—2011《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本校准规范制定的基础性系列规范。
 

　　制定本规范的目的主要是解决工业中扫描探针显微镜校准问题。规范编制中参考了国际上纳米计量领域的一些研究理论性研究成果，并以实际纳米计量工作中的一些实验数据为基础制定了本规范。
 

　　依据JJF 1002《国家计量检定规程编写规则》，本规范在架构上包括：范围；引用文件；术语和计量单位；概述；计量特性；校准条件；校准项目和校准方法；校准结果表达；复校时间间隔以及附录等内容。
 

　　本规范适用于以几何表面形貌为测量对象的扫描探针显微镜的校准。扫描探针显微镜根据其设计原理不同，校准时需要根据实际情况选择相关的计量特性。对有特殊要求的测量任务，如对溯源要求较高的测量，不在本校准规范的适用范围。